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什么是PCBA功能測(cè)試?

來源:CLTPHP     時(shí)間:2020/04/02

       PCBA測(cè)試是一項(xiàng)必要的工序,如果正確完成,則可以防止產(chǎn)品上市時(shí)避免出現(xiàn)品質(zhì)問題損害品牌名譽(yù)。

      在制造過程結(jié)束時(shí)進(jìn)行功能性PCBA(印刷電路板)測(cè)試,以確保制造的零件不會(huì)立即失效或縮短使用壽命。


讓我們?cè)赑CB功能測(cè)試和其他PCB測(cè)試之間進(jìn)行區(qū)分,然后深入探討每種測(cè)試的細(xì)節(jié)和優(yōu)勢(shì)。

PCBA功能測(cè)試

PCBA功能測(cè)試包括:

·X-ray檢查

·顯微切片分析

·PCB污染測(cè)試

·PCB可焊性測(cè)試

·時(shí)域反射儀(TDR

·剝離測(cè)試

·焊錫浮動(dòng)測(cè)試

 

為什么要進(jìn)行功能測(cè)試,特別是相對(duì)于另一類PCB測(cè)試?功能性PCB測(cè)試具有明顯的好處,例如:

·通過消除為電子合同制造商(ECM)提供測(cè)試設(shè)備的需求來節(jié)省資金

·與在線測(cè)試和飛針測(cè)試一起有效地工作(請(qǐng)參閱下文)

·可以測(cè)試幾乎所有發(fā)貨的PCB(相對(duì)于少數(shù)幾個(gè)),因此可以在產(chǎn)品到達(dá)客戶之前對(duì)其進(jìn)行調(diào)試

功能測(cè)試如何進(jìn)行

 

PCB功能測(cè)試不僅檢查組件,還檢查整個(gè)組件。這種電路板測(cè)試可模擬需要實(shí)際組裝的環(huán)境。通過功能測(cè)試,可以在ECM將產(chǎn)品運(yùn)送到原始設(shè)備制造商(OEM,AKA)之前對(duì)多達(dá)100%的產(chǎn)品進(jìn)行測(cè)試。

以下是一些流行的PCB功能測(cè)試及其工作方式。

 

X-ray檢查

X-ray檢查也稱為AXI,涉及2D3D數(shù)字圖像,這些圖像顯示了PCB的每一層。因此,檢查只需一步即可完成。該程序允許查看整個(gè)電路板的工作情況。示意圖為比較提供了參考。

 

AXI的優(yōu)勢(shì)包括:

·內(nèi)部視圖。隱藏的元素不再隱藏,可以檢查其功能。

·可以檢查復(fù)雜的PCB,甚至帶有RF屏蔽的PCB。

AXI確實(shí)要求操作員具有培訓(xùn)和經(jīng)驗(yàn),但是如果您與您信任的合同電子制造商合作,這不是問題。盡管增加了人員支出,該測(cè)試仍可以節(jié)省大量時(shí)間和成本。

 

 

微截面分析

顯微截面分析有時(shí)被稱為橫截面或金相制備,它采用2D樣品來揭示內(nèi)部工作原理。該測(cè)試有助于確定:

·打開

·短路

·回流焊

·有缺陷的元器件

·熱機(jī)械問題

微觀切片具有破壞性,但是使用它,可以刪除運(yùn)行不正常的組件。然后將組件放入固化的環(huán)氧樹脂中,通過磨蝕使其暴露,并與功能組件進(jìn)行比較。

通過仔細(xì)查看,技術(shù)人員可以看到:

·板厚

·焊點(diǎn)故障

·金屬層的間歇厚度

 

污染測(cè)試

PCB受到污染的方式可能超出我們所允許的范圍,其中包括:

·助焊劑殘留

·反應(yīng)產(chǎn)物

·人類副產(chǎn)物

·處理方式

污染的結(jié)果可能包括:

·腐蝕

·降解

·金屬化

PCB污染經(jīng)常發(fā)生。因此,對(duì)其進(jìn)行測(cè)試對(duì)于正確的組件性能至關(guān)重要。

也稱為溶劑萃取物或ROSE測(cè)試的電阻率,污染測(cè)試旨在發(fā)現(xiàn)大量的離子和污染的板。該過程涉及零離子或其他離子測(cè)試單元,將板上的離子吸入溶劑中。然后測(cè)量離子污染并將其繪制在曲線上,以將其與行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行比較。

 

 

 

可焊性測(cè)試

測(cè)試組件和PCB焊盤的可焊性可以幫助:

·減少組裝問題,例如阻焊層的誤涂

·確保表面堅(jiān)固

·增加可靠焊點(diǎn)的可能性

·確認(rèn)在存儲(chǔ)過程中不會(huì)對(duì)可焊性產(chǎn)生不利影響

該測(cè)試對(duì)于多種生產(chǎn)因素非常有用:

·焊錫評(píng)估

·PCB涂層評(píng)估

·助焊劑評(píng)估

·質(zhì)量控制

·標(biāo)桿管理

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時(shí)域反射儀(TDR)

盡管旨在識(shí)別金屬電纜連接器和其他電氣路徑中的故障和不連續(xù)性,但它也可用于PCB測(cè)試。

       專用TDR可用于定位高頻板中的故障,尤其是那些像傳輸線一樣的故障。儀器會(huì)發(fā)現(xiàn)反射,從而顯示出球柵陣列的未焊接引腳,短路的引腳等。

 

剝離測(cè)試

        通常,用于柔性膠粘劑的剝離測(cè)試可測(cè)量對(duì)高度局部應(yīng)力的抵抗力。此測(cè)試特定于PCB,用于測(cè)量從板上剝離層壓板所需的強(qiáng)度。

浮法測(cè)試

浮動(dòng)測(cè)試確定了板孔可以承受的熱應(yīng)力。

…還是您的項(xiàng)目應(yīng)該朝不同的方向發(fā)展?

        視具體情況與您的電子合同制造商合作,確定是需要功能測(cè)試還是需要更深入(且更昂貴)的測(cè)試-或兩者兼而有之。

還有許多其他測(cè)試可能比PCB功能測(cè)試更好。這些包括:

·在線測(cè)試(ICT):也稱為指甲床測(cè)試,該檢查使用設(shè)計(jì)在PCB中的針和接入點(diǎn)與電路連接并確定值。在線PCB測(cè)試可幫助您的承包商確定任何電子組件是否有缺陷。使用ICT,可以在不引入電源的情況下執(zhí)行這些程序。這樣可以保護(hù)組件免受損壞。

·飛針測(cè)試:這可以在沒有電源的情況下檢查各種因素,例如電阻,電感和短路。

·自動(dòng)光學(xué)檢查:這使用電路板的照片將其與原理圖進(jìn)行比較。

·深圳市小銘打樣SMT貼片打樣:老化測(cè)試:提供有關(guān)PCB在高溫下的性能的信息。權(quán)衡取舍的是較小的產(chǎn)量,并可能縮短產(chǎn)品的使用壽命。盡管如此,收集到的數(shù)據(jù)仍可以幫助工程師了解造成缺陷的原因,并在設(shè)計(jì)進(jìn)入老化階段之前對(duì)其進(jìn)行修改以提高可靠性。

 

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